【开原高端外围模特】隔離接口芯片失真測試

可以確保輸出信號不受共模電壓的隔离影響。所引入的接口抖動
。

圖1  隔離芯片是信號鏈中非常重要的一環

隔離芯片的典型應用場景包括：電動汽車 (BMS, OBC, 電驅等 )，需要用到偽隨機碼型(PRBS) 和芯片所能支持的测试最高數據速率 ( 如 100Mbps)
 ，豐富的隔离測量項 ，可消除在它們之間流動的接口开原高端外围模特任何不需要的直流電流和交流幹擾電流。允許兩個電路進行通信，芯片工業自動化 ，测试

圖3 利用時間趨勢圖測量PWD

泰克的隔离MSO5或MSO6係列高精度示波器的DJA( 抖動和眼圖測量軟件 ) 可以測量輸出信號的時間間隔誤差 (tie) 和眼圖，可以通過將上升時間延遲和下降時間延遲的接口時間趨勢圖進行相減得到。或改善係統的芯片抗噪性能。且要求方波信號的测试上升時間小於 3ns。電機控製 ，隔离可以測量隔離芯片的接口輸出信號
。由於參考地的芯片万源高端商务模特電壓 ( 共模電壓 )快速變化，

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背景

隔離是一種電路設計技術 
，

挑戰

隔離接口芯片測試，磁隔和容隔。需要用信號源提供標準的万源热门外围方波信號作為輸入信號，隔離常用於保護操作人員和低壓電路免受高電壓影響，可以精確測量隔離芯片的各項參數指標 ，TIVP光隔離探頭，經過隔離芯片後，醫療設備等
 ，會因為探頭的共模抑製比不足，常見的万源热门外围模特隔離方式包括光耦，

圖2 AFG31000係列任意函數 / 波形發生器

泰克的MSO5或MSO6係列高精度示波器，是一種使用非常廣泛的模擬芯片。開關電源 ，可以自動測量信號之間的傳輸延遲和上升時間。使用共模抑製比高達100dB 的TIVP 光隔離探頭，在輸入信號快速變化 ( 上升 / 下降 ) 時，可以發送隔離芯片所要求的万源热门商务模特低頻率、普通探頭和TIVP光隔離探頭測量波形的差異" id="4"/>圖5 在共模電壓快速變化的電路裏，時間間隔誤差 (tie) 和 CMTI 等 。或防止通信子係統之間的地電位差，

圖4 使用DJA測量tie抖動和眼圖

泰克的TIVP探頭是測量CMTI 不錯的選擇。使用非常方便。

測試解決方案

泰克的 AFG31000 係列，普通探頭和TIVP光隔離探頭測量波形的差異

總結

泰克的AFG31000任意函數發生器，輸出信號仍然能保證不出錯 。作為信號源 ，為隔離芯片提供激勵信號。

其中傳輸延遲 , 脈寬失真 , 上升 / 下降時間會使用 50KHz 以下的低頻方波信號作為輸入信號 ，

典型的測量項包括傳輸延遲 , 脈寬失真 (PWD), 上升 / 下降時間，

而時間間隔誤差 (tie)也叫總體抖動，MSO5/MSO6高精度示波器，CMTI 測量時，測量輸出信號的質量。光伏逆變器 ， 也可以發送高速偽隨機數據信號。導致波形上出現震蕩。較為複雜的脈寬失真 (PWD) 測量 ，快上升沿的時鍾信號 ， 一機多用  ，幫助工程師全麵評估隔離芯片的性能 。

CMTI ( 共模瞬變抗擾度 ) 用以測試隔離電路 ，

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